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FTM-Lite Schichtdicken-Messgerät für USB 2.0

Unsere neuen FTM-Lite Schichtdicken-Messgeräte benutzen die sog. Weißlicht-Interferenz zur Bestimmung der Schichtdicke von transparenten Einzel- und Doppelschichten. Grundlagen zur Messmethode finden Sie unter Applikationen. Die FTM-Lite Messgeräte sind speziell für manuell ausgeführte und einfach zu handhabende, aber dennoch hochpräzise Schichtdickenmessungen im Labor entwickelt worden.

  • Optisches Verfahren, berührungslos, zerstörungsfrei, nicht-radioaktiv

  • Gleichzeitige Bestimmung von Doppelschichten möglich

  • Wartungsfreie Tischgeräte zum Anschluss an USB 2.0

  • FTM-Lite VIS Schichtdicken-Messbereich: ~ 1...25 Mikrometer

  • FTM-Lite NIR Schichtdicken-Messbereich: ~ 2...100 Mikrometer

  • Komfortable und sehr einfach zu bedienende Software FTM-ProVis Lite


FTM-Lite VIS Schichtdicken-Messgerät
FTM-Lite VIS  ~ 1-25 Mikrometer
 

FTM-Lite NIR Schichtdicken-Messgerät
FTM-Lite NIR  ~ 2-100 Mikrometer
 



Das FTM-Lite Schichtdicken-Messgerät besteht aus einem TranSpec Lite Diodenzeilen-Spektrometer (in den Fotos das untere Gehäuse), der HSL Lite Halogenlampe (in den Fotos das obere Gehäuse), einem 2-armigen Y-Lichtleiter mit Aufsetzkopf und der FTM-ProVis Lite Schichtdickensoftware.

Zur Entwicklung eigener Applikationen für die Messung transparenter Schichten mit Hilfe der FTM-Lite Messgeräte bieten wir unsere leistungsfähige Programmierbibliothek FTM-Lite++ an. Die Bibliothek kann z.B. unter C/C++, VBA (Excel) oder LabVIEW benutzt werden.